多禾試驗是知名的可靠性測試設(shè)備制造商，在可靠性領(lǐng)域有非常成熟的生產(chǎn)經(jīng)驗，針對各行各業(yè)不同的檢測需求，多禾試驗也有著非常專業(yè)的解決方案，在前幾期的介紹中我們講述了高低溫試驗箱在新能源等領(lǐng)域中的應(yīng)用，今天來講講高低溫試驗箱在元器件行業(yè)的解決方案，我們有很多來自元器件行業(yè)用戶，其中不乏頭部企業(yè)。今天跟著我們一起來了解一下高低溫試驗箱在電子元器件領(lǐng)域的應(yīng)用。
   
高低溫試驗箱用于電子電器元件、自動化零部件、通訊元件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)、國防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板扳手、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷磁性和高分子材料的物理變化，測試其材料承受高低溫的性能以及產(chǎn)品在熱脹冷縮中的化學(xué)變化或物理損傷，可以確認產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密IC到重型機械元件，將是各領(lǐng)域產(chǎn)品測試必不可少的試驗箱。

高低溫試驗箱可以給電子元器件做哪些檢測
電子元件是整機的基礎(chǔ)，在使用過程中可能由于其固有缺陷或制造過程控制不當(dāng)而形成與時間或應(yīng)力有關(guān)的故障。為保證整批元器件的可靠性，滿足整機的要求，需要排除在使用條件下可能出現(xiàn)初始故障的元器件。元件故障率隨時間變化的過程可以用“浴缸曲線”故障率曲線來描述。早期故障率隨著時間的增加而迅速下降，在使用壽命期間（或意外故障期間）的損失效率基本不變。
1.高溫儲存
電子元器件的失效大多是由于機體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，這些變化與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，加速失效過程。使有缺陷的元件能及時暴露出來，加以淘汰。
高溫篩分廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中，可有效消除表面污染、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理。一般在最高結(jié)溫下儲存 24~168 小時。
高溫篩分簡單易行，價格不貴，可以對很多部件進行。高溫儲存后，可以穩(wěn)定元器件的參數(shù)性能，減少使用中的參數(shù)漂移。
2.電力電力
在篩選中，在熱電應(yīng)力的綜合作用下，可以很好地暴露出元器件本體和表面的許多潛在缺陷，這是可靠性篩選的重要項目。
各種電子元器件通常在額定功率條件下精煉幾小時到168小時。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，而是可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫，達到高應(yīng)力狀態(tài)。
電力精煉需要專門的測試設(shè)備——高低溫試驗箱，成本高，篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常是幾個小時，軍用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時，航空級部件可以選擇240小時或更長的周期。
3.溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下，熱匹配性能差的元件很容易失效。溫度循環(huán)篩選利用極端高溫和極端低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力，可有效剔除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃，5~10個循環(huán)。
電力精煉需要專門的測試設(shè)備，成本高，篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常是幾個小時，軍用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時，航空級部件可以選擇240小時或更長的周期。
4.篩選元件的必要性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。在產(chǎn)品的制造過程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動，最終的成品并不能全部達到預(yù)期的固有可靠性。
在每批成品中，總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點，其特點是在一定的應(yīng)力條件下早期失效。早期失效部件的平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。
電子設(shè)備能否可靠工作的依據(jù)是電子元器件能否可靠工作。如果早期故障部件與整機設(shè)備一起安裝，將大大增加整機設(shè)備早期故障的故障率，其可靠性達不到要求，也將付出巨大的代價修理。
因此，在電子元件與整機設(shè)備安裝前，應(yīng)盡量排除早期失效的元件，對元件進行篩選。根據(jù)國內(nèi)外篩分經(jīng)驗，通過有效篩分，可使元器件總故障率降低1-2個數(shù)量級。因此，無論是軍用產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。高低溫試驗箱是電子元器件環(huán)境可靠性試驗的最佳選擇。
 
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